電子氣體的發展及其應用
進入20世紀90年代,世界半導體制造加工中心已由西方逐漸向中國大陸轉移,中國已成為世界晶圓的生產基地,中國IC制造業可謂異軍突起然而。
我國IC產業的發展極不平衡,與之相關的源性材料仍然依賴進口,因此,盡管我國IC生產加工數量多,但利潤卻較低。
電子氣號稱IC制造的糧食,它的質量好壞直接決定半導體器件的性能。有資料表明,電子氣質量哪怕有絲毫的變化,都將嚴重影響器件的成品率,因此,發達國家為了發展IC業,首先優先開展電子氣的研究與生產。由于電子器件發展永無止境,不斷升級換代,所以,電子氣的研究也必將是隨之不斷發展,甚至超前發展,以適應下游制造業的發展。
在電子氣家族中,硅烷、磷烷、硼烷、砷烷應用量較大,是IC制造極為重要的原料。
電子氣的分類
電子工業服務的電子氣品種繁多,用途五花八門,它的分類方法亦較為復雜。一般可按電子氣組分的性質來分類,也可以按電子氣的用途分舉類。
A.按電子氣組分的性質分類
按組分的性質分類,大致可分為三大類,即單質類氣體、化合物類氣體和混合物類氣體。
表1列出了上述三類電子氣的典型例子。其中化合物類應用較多,又可細分為三種,即氫化物(如SiH4)、PH3、B2H6等)、氟化物(如NF3、 BF3、SiF4等)和碳氟化合物(如CF4、C2F6、C5F12等)。
不同成分電子氣的分類
分類 | 氣體名稱 | |
單質氣體 | Ar、H2、O2、He、N2、Cl2 | |
化合物氣體 | SiH4、PH3、AsH3、B2H6、SiF4、SF6、HCl、H2S、NH3、GeH4、CF4、C2F6、C3F8、C5H12 | |
混合物氣體 | ①SiH4+稀釋氣(Ar、He、H2、N2) | ②PH3+稀釋氣(Ar、He、H2、N2) |
③AsH3+稀釋氣(Ar、He、H2、N2) | ④B2H6+稀釋氣(Ar、He、H2、N2) | |
⑤HCl +稀釋氣(Ar、He、O2、N2) | ⑥H2S +稀釋氣(Ar、He、H2、N2) | |
⑦NH3+稀釋氣(Ar、He、H2、N2) | ⑧Cl2 + 稀釋氣(Ar、He、N2) | |
⑨CO+SF6 | ⑩H2Se +稀釋氣(Ar、He、H2、N2) |
B.按電子氣用途分類
根據電子氣的不同用途,電子氣可分為十多類,例如外延晶體生長氣、熱氧化氣、外延氣、摻雜氣、擴散氣、化學氣相沉積氣、噴射氣、離子注人氣、等離子蝕刻氣、載氣/吹洗氣、光刻氣、退火氣、焊接氣、燒結氣和平衡氣等。表2列出了電子工業、半導體器件制備工藝中所用電子氣的范例。
分類 | |
摻雜氣 | AsH3、PH3、GeH4、B2H6、AsCl3、AsF3、H2S、BF3、BCl3、H2Se、SbH3、(CH3)2Te、(CH3)2Cd、(C2H5)2Cd、PCl3、(C2H5)2Te |
晶體生長氣 | SiH4、SiH2Cl2、SiHCl3、SiCl4、B2H6、BBr3、BCl3、AsH3、PH3、GeH4、TeH2、(CH3)3Al、(CH3)3As、(C2H5)3As、(CH3)2Hg、(CH3)3P、(C2H5)3P、SnCl4、GeCl4、SbCl5、AlCl3、Ar、He、H2 |
氣相蝕刻氣 | Cl2、HCl、HF、HBr、SF6 |
等離子蝕刻氣 | SiF4、CF4、C3F8、CHF3、C2F6、CClF3、O2、C2ClF5、NF3、SF6、BCl3、CHFCl2、N2、Ar、He |
離子束蝕刻氣 | C3F8、CHF3、CClF3、CF4 |
離子注入氣 | AsF3、PF3、PH3、BF3、BCl3、SiF4、SF6、N2、H2 |
化學氣相沉積氣 | SiH4、SiH2Cl2、SiCl4、NH3、NO、O2 |
平衡氣〔稀釋氣) | N2、Ar、He、H2、CO2、N2O、O2 |
外延氣 | SiH4、SiH2Cl2、SiCl4、Si2H6、HCl、PH3、AsH3、B2H6、N2、Ar、He、H2 |
常用電子混合氣
在大規模集成電路(( LSI) ,超大規模集成電路(VLSI)、半導體和電子器件生產與加工過程中,電子氣主要用于氣相外延生長、化學氣相沉積、摻雜(雜質擴散)、蝕刻、離子注人、濺射、退火、系統加壓、潔凈吹掃、吸氣覆蓋、氧化和還原等工藝。其中部分氣體可直接作為半導體源,如硅源、硼源、磷源和化學氣相沉積(CVD)源等。
A.外延生長混合氣
外延生長是一種單晶材料沉積并生長在襯底表面上的過程,在半導體工業中,在仔細選擇的襯底上選用化學氣相沉積的方法,生長一層或多層材料所用的氣體叫做外延氣體。常用的硅外延氣體有二氯氫硅、四氯化硅和硅烷等。主要用于外延硅沉積、多晶硅沉積、氧化硅膜沉積、氮化硅膜沉積、太陽能電池和其他光感器的非晶硅膜沉積等。常見外延混合氣體組成列于表3中。
表-3 外延生長混合氣組成
序號 | 組分氣 | 平衡氣 |
1 | 硅烷(SiH4) | 氦、氮、氫、氮 |
2 | 四氯化硅(SiCl4) | 氦、氮、氫、氮 |
3 | 二氯氫硅(SiH2Cl2) | 氦、氮、氫、氮 |
4 | 乙硅烷(Si2H6) | 氦、氮、氫、氮 |
B.蝕刻混合氣
蝕刻就是將基片上無光刻膠掩蔽的加工表面(如金屬膜、氧化硅膜等)蝕刻掉,而使有光刻膠掩蔽的區域保存下來,以便在基片表面上獲得所需要的成像圖形。蝕刻方式有濕法化學蝕刻和干法化學蝕刻。干法化學蝕刻所用氣體稱為蝕刻氣體。蝕刻氣體通常多為氟化物氣體(鹵化物類),例如四氟甲烷、三氟化氮、硯氟甲烷、六氟乙烷、全氟丙烷等。常見蝕刻氣列于表4中。
表-4 常用刻蝕混合氣
材質 | 蝕刻組分氣 | 平衡氣 |
鋁(Al) | 四氯化硅(SiCl4)、四氯化碳(CC14) | 氬、氦 |
鉻(Cr) | 四氯化碳(CCl4) | 氧、空氣 |
鉬(Mo) | 二氟二氯化碳(CCl2F2)、四氟甲烷(CF4) | 氧 |
鉑(Pt) | 三氟三氯乙烷(C2Cl3F3)、四氟甲烷(CF4) | 氧 |
聚硅 | 四氟甲烷(CF4)、乙烷(C2H6) | 氧、氯 |
硅(Si) | 四氟甲烷(CF4) | 氧 |
鎢(W) | 四氟甲烷(CF4) | 氧 |
C.摻雜混合氣
在半導體器件和集成電路制造中,將某些雜質摻人半導體材料內,使材料具有所需要的導電類型和一定的電阻率,以制造電阻、PN結、埋層等。摻雜工藝所用的氣體稱為摻雜氣。主要包括砷化氫、磷烷、三氟化磷、五氟化磷、三氟化砷、五氟化砷、三氟化硼和乙硼烷等。通常將摻雜源與運載氣體(如氦氣和氮氣)在源柜中混合,混合后氣流連續注人擴散爐內并環繞在晶片四周,在晶片表面沉積上摻雜劑,進而與硅反應生成摻雜金屬而徙動進人硅。常用摻雜混合氣列于表5中。
類型 |
組分氣 |
稀釋氣 |
備注 |
硼化合物 |
乙硼烷(B2H6)、三氯化翻(BCl3)、三溴化硼(BBr3) |
氦、氬、氫 |
具有P型性質 |
磷化合物 |
磷烷(PH3)、三氧化磷(PCl3)、三溴化磷(PBr3) |
氦、氬、氫 |
具有N型性質 |
砷化合物 |
砷化氫(AsH3)、三氯化砷(AsCl3) |
氦、氬、氫 |
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硒化合物 |
硒化氫(H2Se) |
氦、氬、氫、氮 |
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D.化學氣相沉積混合氣
化學氣相沉積(CVD)混合氣是利用揮發性化合物,通過氣相化學反應沉積某種單質或化合物的一種方法,即應用氣相化學反應的一種成膜方法。依據成膜種類,使用的化學氣相沉積(CVD)氣體也不相同。表6列出了幾類化學沉積混合氣的組成。
表-6 化學氣相沉積混合氣
膜的種類 | 混合氣組成 | 生成方法 |
半導體膜 | 硅烷(SiH4)+氫(H2) | CVD |
二氧氫硅(SiH2Cl2)+氫(H2) | CVD | |
四氯化硅(SiCl4)+氫(H2) | CVD | |
硅烷(SiH4)+甲烷(CH4) | 離子注入CVD | |
絕緣膜 | 硅烷(SiH4)+氧(O2) | CVD |
硅烷(SiH4)+氧(O2)+磷烷(PH3) | CVD | |
硅烷(SiH4)+氧(O2)+磷烷(PH3) +乙硼烷(B2H6) | CVD | |
硅烷SiH4)+氧化亞氮(N2O)+磷烷(PH3) | 離子注CVD | |
導電膜 | 六氟化鎢(WF6)+氫(H2) | CVD |
六氯化鉬(MoCl6)+氫(H2) | CVD |
E.離子注入氣
在半導體器件和集成電路制造中,離子注人工藝所用的氣體統稱為離子注人氣,它是把離子化的雜質(如硼、磷、砷等離子)加速到高能級狀態,然后注入到預定的襯底上。離子注入技術在控制閥值電壓方面應用得最為廣泛。注入的雜質量可以通過測量離子束電流而求得。離子注入氣體通常指磷系、砷系和硼系氣體。表7列出了英國BOC公司生產的部分離子注入用氣體的例子。
表-7 英國BOC公司部分離子注入氣體
氣體種類 | 組分氣含量/% | 稀釋氣 | 壓力/kPa |
磷烷(PH3) | 5 | 氫氣(H2) | 27.7 |
15 | 氫氣(H2) | 27.7 | |
砷化氫(AsH3) | 5 | 氫氣(H2) | 27.7 |
15 | 氫氣(H2) | 27.7 |